Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (inbunden, eng)
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter wa...
1 869 kr
inkl. moms
Bara 2 kvar
Skickas inom 3 - 4 vardagar
EAN: 9783527310524
Specifikation
Det finns tyvärr inga specifikationer att visa för denna produkt.