Frakt 49 kr | Fri frakt över 499 kr Betala med kort, Swish eller faktura 14 dagars ångerrätt
    Frakt 49 kr | Fri frakt över 499 kr
    1. Hem
    2. Böcker
    3. Kurslitteratur
    4. Matematik & Naturvetenskap
    5. Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (inbunden, eng)

    Thin Film Analysis by X-Ray Scattering (inbunden, eng)

    With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter wa...
    1 869 kr 2 039 kr inkl. moms
    Bara 2 kvar Skickas inom 3 - 4 vardagar
    EAN: 9783527310524
    Frakt 49 kr | Fri frakt över 499 kr Betala med kort, Swish eller faktura 14 dagars ångerrätt

    Produktbeskrivning

    Specifikation

    Leverans

    Betalning

    Retur & reklamation

    Specifikation

    Böcker

    • Format Inbunden
    • Antal sidor 378
    • Språk Engelska
    • Utgivningsdatum 2005-11-15
    • ISBN 9783527310524
    • Förlag Wiley-VCH Verlag GmbH

    Andra köpte också

    Tillagd i varukorgen